Моделиране и изследване на надеждност в микроелектрониката
Изследователски теми:
Проектиране в микроелектрониката
Ръководител на научната група:
| Име: | Проф. Джуин Джей Лиу |
| Принадлежност - факултет, катедра: | Chair Professor and Director, Zhengzhou University, China |
| Изследователски теми: | Моделиране и изследване на надеждност в микроелектрониката – разработване на компактни модели за прогнозиране на надеждността в модерни полупроводникови устройства, базирани на силициеви FinFET, силициеви наножички и органични транзистори |
| Автобиография |
Екип
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Copyright © 2025 ТУ-София - ЦИР